規(guī)格:

WF-10R 微分干涉檢測顯微鏡

無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，長工作距離平場復(fù)消色差物鏡，穩(wěn)定可靠的架臺，精確的調(diào)焦機(jī)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、電子工業(yè)、等領(lǐng)域。DIC觀察模式尤其適合液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測。

產(chǎn)品規(guī)格

WF-10R
光學(xué)系統(tǒng)	無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)
平場復(fù)消色差物鏡	10倍/NA0.28/WD34
檢偏裝置	0°~105°轉(zhuǎn)動式檢偏器
微分干涉	0 ~ 10mm 移動式插板器
調(diào)焦系統(tǒng)	同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)、微動格值：0.001mm調(diào)焦范圍：60mm
載物臺	矩形雙層活動平臺：260X220mm載物臺玻璃尺寸：170X150mm移動范圍：±75X±75mm
照明系統(tǒng)	LED反射式科勒照明, 帶起偏器
	LDE透射照明

規(guī)格配置：

1.無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)：F=200MM

2.光學(xué)放大倍數(shù)：50X、100X、200X

3.觀察方式：明場、偏光、微分干涉

4.長工作距離：20-45MM

5.調(diào)焦范圍：60MM

6.平臺移動范圍：X：±75MM、Y：±75MM

7.照明系統(tǒng)：垂直LED照明、透射LED照明

8.成像裝置：數(shù)字相機(jī)或模擬攝像頭

觀察方式：

1.明場觀察：亮度可調(diào)同軸LED照明，視野清晰明亮，適合集成電路的檢驗、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測和品質(zhì)控制。

2.透射觀察：采用亮度可調(diào)的透射照明，可觀察透明樣品，尤其適合用戶液晶顯示屏的品質(zhì)檢測，能清楚的觀察發(fā)光屏的三色模塊。

3.偏光觀察：系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機(jī)構(gòu)。可調(diào)的檢偏鏡，便于正交觀察。廣泛應(yīng)用于金相試樣、巖礦、煤巖、高分子試樣等偏光觀察。

4.DIC觀察--微分干涉觀察：在系統(tǒng)插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡），能突出樣品各組成之間的相對層次關(guān)系，使之呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能做出正確的判斷。DIC顯微鏡觀察法特別適用于液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測，能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。

產(chǎn)品詳情: 服務(wù): 常見問題: